温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请技术方案提供一种版图原理图对比程序的检验方法及系统，其中所述检验方法包括：获得器件的实际层次信息及相匹配的原始版图和原始原理图，其中所述实际层次信息包括必要层次、不要层次及可选层次；基于所述实际层次信息，对所述原始版图的层次进行删除或...
该专利属于中芯国际集成电路制造（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（北京）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。