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本发明提供了一种添加期望辐射场相位为设计参数的阵列天线快速综合方法，将阵列天线的端口激励和辐射场形式表示为实数形式；根据实数形式的阵列天线的端口激励和辐射场，将幅度方向图匹配问题等价转换成场方向图匹配问题，确定场方向图匹配问题的特征；根据场...
该专利属于中国地质大学（武汉）所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质大学（武汉）授权不得商用。

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