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本公开涉及集成电路、像素驱动装置和像素缺陷检测方法，并且提供通过数据线感测像素的发光二极管的电压并将所感测到的电压与参考范围进行比较从而确定像素缺陷的装置和方法。范围进行比较从而确定像素缺陷的装置和方法。范围进行比较从而确定像素缺陷的装置和...
该专利属于LX半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过LX半导体科技有限公司授权不得商用。

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