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本发明提供一种扩散硅芯体测试装置，扩散硅芯体测试装置的结构包括装置主体，其形成有第一轴孔、第二轴孔和第三轴孔，并在顶部形成有多个用于安装扩散硅芯体的安装孔，安装孔与第一轴孔相连通；中心轴，安装于第一轴孔，并形成有椭圆柱面；主动轴，安装于第二...
该专利属于中航光电华亿（沈阳）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中航光电华亿（沈阳）电子科技有限公司授权不得商用。

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