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老化子板、老化测试组件及性能测试组件制造技术
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文档序号:37260012
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本申请提供了老化子板、老化测试组件及性能测试组件。所述老化子板包括子板本体,具有相背设置的第一面及第二面;芯片焊盘,设于所述第一面,所述芯片焊盘用于安装待测芯片;金手指,设于所述第二面,且对应所述芯片焊盘层叠设置,所述金手指与所述芯片焊盘电...
该专利属于深圳曦华科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳曦华科技有限公司授权不得商用。
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