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本发明公开了一种周期波形统计参数测量方法及装置，采用阶梯相位延迟采样的方法，采样点采样周期相对于初始采样点采样周期T0呈现阶梯型变化，逐渐增大再逐渐减小，或逐渐减小再逐渐增大，并回到初始采样点采样周期T0，然后再进行第二次循环，以此类推，从...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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