一种周期波形统计参数测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种周期波形统计参数测量方法及装置，采用阶梯相位延迟采样的方法，采样点采样周期相对于初始采样点采样周期T0呈现阶梯型变化，逐渐增大再逐渐减小，或逐渐减小再逐渐增大，并回到初始采样点采样周期T0，然后再进行第二次循环，以此类推，从而实现了变采样率采样。用采样点采样周期阶梯型变化的采样时钟对被测的周期波形进行一段时间的连续采样得到一个数据集，并对这些采样点数据按照统计参数计算方法直接进行计算，则可得到准确的结果，从而避免了固定采样率系统中，对于频率为采样率整分数或整倍数的周期波形，采样点相位固定，从而无法获取波形更多相位点幅度信息的问题。同时，该处理流程简单，系统资源占用少，响应速度相对于顺序等效采样方法大幅提高。高。

【技术实现步骤摘要】
一种周期波形统计参数测量方法及装置


[0001]本专利技术属于功率分析仪同步
，更为具体地讲，涉及一种周期波形统计参数测量方法及装置。

技术介绍

[0002]现代功率分析仪需要具备0.01％量级的电压、电流和功率测量准确度，还要具有10MHz的最高测量带宽。而要实现如此高测量准确度和带宽，高分辨率的SAR(逐次逼近寄存器型，Successive Approximation Register)型ADC是最佳选择。大于等于16位分辨率的SAR ADC的输入带宽很容易达到10MHz的需求，但采样率最高仅能达到10MSPS左右。按照采样定理，常规方法无法恢复大于5MHz的信号波形；对于高频(200kHz～10MHz)信号，定频采样方法在每个信号周期采集点数较少，无法准确计算有效值、功率、相位等周期统计参数。
[0003]为了应对这样的问题，可采用顺序等效采样方法，把被采样波形周期T分为N等分，第n个采样点相对于最近的输入波形上升沿过零点延迟时间n*T/N，n＝0,1,2
……
N
‑
1，通过N个周期的采样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种周期波形统计参数测量方法，其特征在于包括以下步骤：(1)、设定一个初始采样点采样周期T0，其后的采样点采样周期相对于初始采样点采样周期T0呈现阶梯型变化，逐渐增大再逐渐减小，或逐渐减小再逐渐增大，并回到初始采样点采样周期T0，然后再进行第二次循环，以此类推；每个采样循环的第k个采样点的采样周期T
k
满足以下公式：1≤k≤K+1时，T
k
＝T0+(k
‑
1)*t；K+1<k≤2K时，T
k
＝T0+(2K
‑
k+1)*t或1≤k≤K+1时，T
k
＝T0‑
(k
‑
1)*t；K+1<k≤2K时，T
k
＝T0‑
(2K
‑
k+1)*t其中，k为1到2K范围内的整数，第一组公式适用于采样点采样周期逐渐增大再逐渐减小，第二组公式适用于采样点采样周期逐渐减小再逐渐增大，K为采样阶梯数，t为阶梯步进时间；(2)、针对步骤(1)的采样周期T
k
，生成相应的采样时钟，对被测的周期波形进行一段时间的连续采样得到多个采样循环采样点构成一个采样点数据集{x(n)}，n为采样点采样序号，n＝1,2,
…
,N，N为总的采样点数；(3)、根据采样点数据集{x(n)}计算统计参数。2.根据权利要求1所述的周期波形统计参数测量方法，其特征在于，所述的周期波形为周期电压信号或周期电流信号，...

【专利技术属性】
技术研发人员：苟轩，王厚军，程玉华，邹松庭，韩文强，叶晓轩，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：