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本公开的实施例涉及辐射检测技术领域，提供了一种被检物的特征信息的获取方法，包括：控制被检物通过检测设备；控制成像系统对被检物进行辐射扫描；获取被检物的辐射扫描图像；通过辐射扫描图像获取被检物的特征信息，其中，被检物包括第一部分、检测部分和第...
该专利属于同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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