被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质制造方法及图纸

本公开的实施例涉及辐射检测技术领域，提供了一种被检物的特征信息的获取方法，包括：控制被检物通过检测设备；控制成像系统对被检物进行辐射扫描；获取被检物的辐射扫描图像；通过辐射扫描图像获取被检物的特征信息，其中，被检物包括第一部分、检测部分和第二部分，在控制成像系统对被检物进行辐射扫描的过程中，检测部分在第一方向上位于第一部分和第二部分之间，通过所述辐射扫描图像获取被检物的特征信息包括：通过辐射扫描图像，获取检测部分与第一部分之间的第一分界线以及检测部分与第二部分之间的第二分界线；计算第一分界线与第二分界线之间沿第一方向的尺寸，以获取检测部分沿第一方向的尺寸。测部分沿第一方向的尺寸。测部分沿第一方向的尺寸。

【技术实现步骤摘要】
被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质


[0001]本公开涉及辐射检测
，更具体地，涉及一种被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质。

技术介绍

[0002]辐射检测技术是一种利用射线检测物体内部的技术。这种技术可以在不破坏物体的情况下获得物体内部的结构和密度等信息，目前广泛应用在医院的胸透和车站、机场的安检等场景下。
[0003]现有的数字成像(DR)图像分析是一种基于完整DR或者重建图像的特征分析方法，特征的识别与分析都是基于二维或三维信息，比如提取违禁品的形状信息、位置信息等，这些都需要基于DR图像的二维信息或者重建图像的三维信息。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本公开提供了一种被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质。
[0005]在一个方面，提供一种被检物的特征信息的获取方法，包括：
[0006]控制所述被检物通过检测设备，其中，所述检测设备用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：检测通道，所述被检物通过所述检测通道沿第一方向进出所述检测设备；以及用于对被检物进行扫描检测的成像系统；
[0007]控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描；
[0008]获取所述被检物的辐射扫描图像；
[0009]通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息，
[0010]其中，所述被检物包括第一部分、检测部分和第二部分，在控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描的过程中，所述检测部分在所述第一方向上位于所述第一部分和所述第二部分之间，
[0011]所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息包括：
[0012]通过所述辐射扫描图像，获取所述检测部分与所述第一部分之间的第一分界线以及所述检测部分与所述第二部分之间的第二分界线；
[0013]计算所述第一分界线与所述第二分界线之间沿所述第一方向的尺寸，以获取所述检测部分沿所述第一方向的尺寸。
[0014]根据一些实施例，所述方法还包括：获取所述检测部分的体积，所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息还包括：基于所述检测部分的体积和所述检测部分沿所述第一方向的尺寸，获取所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积。
[0015]根据一些实施例，所述方法还包括：获取所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息还包括：基于所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积和所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的特征信息。
[0016]根据一些实施例，所述第一部分和所述第二部分中的每一个对所述成像系统发出的射线的衰减特性与所述检测部分对所述成像系统发出的射线的衰减特性不同。
[0017]根据一些实施例，在所述辐射扫描图像中，所述第一部分和所述第二部分中的每一个的灰度与所述检测部分的灰度不同，所述通过所述辐射扫描图像，获取所述检测部分与所述第一部分之间的第一分界线以及所述检测部分与所述第二部分之间的第二分界线，具体包括：根据所述检测部分与所述第一部分在所述辐射扫描图像中示出的灰度的差异，确定所述第一分界线；以及根据所述检测部分与所述第二部分在所述辐射扫描图像中示出的灰度的差异，确定所述第二分界线。
[0018]根据一些实施例，所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状为圆形，所述基于所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积和所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的特征信息，具体包括：根据所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积，利用圆形的面积计算公式，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的半径；或者，所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状为正方形，所述基于所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积和所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的特征信息，具体包括：根据所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积，利用正方形的面积计算公式，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的边长。
[0019]根据一些实施例，所述检测设备还包括姿态调整结构，所述姿态调整结构设置在所述检测通道中，用于调整位于所述检测通道中的被检物的姿态，所述控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描包括：在所述姿态调整结构的驱动下，控制所述被检物在所述检测通道中沿所述第一方向移动；在所述被检物移动过程中，控制所述成像系统持续出束，以持续对所述被检物进行辐射扫描。
[0020]根据一些实施例，所述成像系统包括用于产生射线的射线源，所述射线源设置在所述检测通道的一侧，所述射线至少形成适于对所述被检物进行扫描检测的主束面，所述控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描还包括：调整所述被被检物的姿态，使得：在辐射扫描的过程中，所述被检物的被检测面与所述主束面在同一平面内。
[0021]根据一些实施例，所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积值与所述检测部分在所述第一方向上的尺寸值的比值大于等于10。
[0022]根据一些实施例，所述探测器在所述第一方向上的尺寸与所述检测部分在所述第一方向上的尺寸的比值在1～8的范围内。
[0023]根据一些实施例，在所述控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描之前，所述方法还包括：
[0024]获得所述被检物的姿态；以及
[0025]基于获得的被检物的姿态，控制姿态调整结构调整被检物的姿态，使得被检物的检测面与所述成像系统的主束面在同一平面内。
[0026]根据一些实施例，所述获得所述被检物的姿态包括：
[0027]采用所述成像系统或额外的成像系统对所述被检物进行扫描，以获得被检物的第一图像；以及
[0028]通过分析所述第一图像，以获得所述被检物的姿态。
[0029]在另一方面，提供一种被检物的特征信息的获取装置，包括：
[0030]运动控制模块，用于控制所述被检物通过检测设备，其中，所述检测设备用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：检测通道，所述被检物通过所述检测通道沿第一方向进出所述检测设备；以及用于对被检物进行扫描检测的成像系统；
[0031]辐射扫描控制模块，用于控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描；
[0032]图像获取模块，用于获取所述被检物的辐射扫描图像；以及
[0033]特征信息获取模块，用于通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息，
[0034]其中，所述被检物包括第一部分、检测部分和第二部分，在控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描的过程中，所述检测部分在所述第一方向上位于所述第一部分和所述第二部分之间，
[0035]所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息包括：
[0036]通过所述辐射扫描图像，获取所述检测部分与所述第一部分之间的第一分界线以及所述检测部分与所述第二部分之间的第二分界本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种被检物的特征信息的获取方法，其特征在于，包括：控制所述被检物通过检测设备，其中，所述检测设备用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：检测通道，所述被检物通过所述检测通道沿第一方向进出所述检测设备；以及用于对被检物进行扫描检测的成像系统；控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描；获取所述被检物的辐射扫描图像；通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息，其中，所述被检物包括第一部分、检测部分和第二部分，在控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描的过程中，所述检测部分在所述第一方向上位于所述第一部分和所述第二部分之间，所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息包括：通过所述辐射扫描图像，获取所述检测部分与所述第一部分之间的第一分界线以及所述检测部分与所述第二部分之间的第二分界线；计算所述第一分界线与所述第二分界线之间沿所述第一方向的尺寸，以获取所述检测部分沿所述第一方向的尺寸。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：获取所述检测部分的体积，所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息还包括：基于所述检测部分的体积和所述检测部分沿所述第一方向的尺寸，获取所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：获取所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息还包括：基于所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积和所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的特征信息。4.根据权利要求1
‑
3中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一部分和所述第二部分中的每一个对所述成像系统发出的射线的衰减特性与所述检测部分对所述成像系统发出的射线的衰减特性不同。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述辐射扫描图像中，所述第一部分和所述第二部分中的每一个的灰度与所述检测部分的灰度不同，所述通过所述辐射扫描图像，获取所述检测部分与所述第一部分之间的第一分界线以及所述检测部分与所述第二部分之间的第二分界线，具体包括：根据所述检测部分与所述第一部分在所述辐射扫描图像中示出的灰度的差异，确定所述第一分界线；以及根据所述检测部分与所述第二部分在所述辐射扫描图像中示出的灰度的差异，确定所述第二分界线。6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状为圆形，所述基于所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积和所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的特征信息，具体包括：根据所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积，利用圆形的面积计算公
式，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的半径；或者，所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状为正方形，所述基于所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积和所述检测部分沿所述第一方向的投影的形状特征信息，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的特征信息，具体包括：根据所述检测部分沿所述第一方向的投影的面积，利用正方形的面积计算公式，获取所述检测部分在垂直于所述第一方向上的截面的边长。7.根据权利要求1
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3中...

【专利技术属性】
技术研发人员：张丽，陈志强，常铭，金鑫，黄清萍，许晓飞，洪明志，张立国，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：