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本发明公开了一种模拟空间辐射的器件试验方法，包括以下步骤：S1.分析器件在轨遭遇的质子辐射环境；S2.根据器件材料和构型，建立器件几何结构模型，计算和分析空间质子在器件中的剂量深度分布；S3.采用多能质子拟合模拟轨道质子能谱辐照环境，获取质...
该专利属于北京卫星环境工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京卫星环境工程研究所授权不得商用。

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