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本发明涉及一种基于改进SSD算法的工件表面微小缺陷检测方法，改进原有的主干AGG16网络，采用多尺度卷积特征融合的思想，经过空洞卷积下采样操作与反卷积上采样操作，实现网络结构中的低层特征层与高层特征层的特征融合，使用新生成的特征图代替原SS...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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