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本申请提供一种基于热敏电阻的工艺参数确定方法、装置、设备及介质。该方法包括：确定热敏电阻的工艺参数与预设的性能参数之间的相关性信息；其中，所述工艺参数用于表示生产所述热敏电阻时，制备工艺的参数，所述性能参数包括热敏电阻的电阻率、电阻温度系数...
该专利属于上海集成电路研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海集成电路研发中心有限公司授权不得商用。

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