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本发明涉及半导体测试领域，本发明公开了一种半导体测试装置，包括：测试托件和测试板，所述测试托件的顶面设有第一支撑柱，所述测试板设置在所述第一支撑柱的顶面，所述测试板与所述第一支撑柱之间形成有安装空间，所述测试板上设有测试座和元件，所述测试座...
该专利属于佛山市蓝箭电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过佛山市蓝箭电子股份有限公司授权不得商用。

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