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一种可虚化金线阻挡的芯片检测系统，第一光学成像装置位于工业相机下方，第一光源装置位于第一光学成像装置下方，第二光学成像装置位于第一光源装置下方，第二光源装置位于第二光学成像装置的下方，第一光源装置为同轴光源，第二光源装置为环形光源，工业相机...
该专利属于上海申赋实业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海申赋实业有限公司授权不得商用。

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