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由量测光泽加以控制的绝缘基材金属化的方法技术
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文档序号:3723283
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本发明是关于利用量测光泽进行对绝缘基材的蚀刻制程的控制。使用此种方法可以达到表面粗糙度,借此可导致获得金属化步骤中沉积的金属层的良好黏着性。这方法特别适于制造印刷电路板。...
该专利属于德国艾托科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过德国艾托科技公司授权不得商用。
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