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本发明公开了一种亚微米级的平面二维位移测量方法及实验装置，涉及光学精密测量领域，其实现方法包括：将数据集按照3：1的比例随机划分训练集与测试集；建立位移预测模型，以衍射图像为输入，位移量为输出，将训练集数据输入至模型进行训练；训练结束后，将...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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