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本实用新型公开一种半导体检测治具，包括：基座；转动框，可转动地安装在基座上；料盒，固定安装在转动框内，料盒具有沿第一方向并排分布的多个第一料槽；以及，辅助定位部，具有沿第一方向并排分布的多个第二料槽；其中，半导体检测治具在工作状态下，辅助定...
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