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一种MOSFET驱动器可靠性试验评估方法及其电路，属于集成电路测试领域。包括实时检测方法、电参数检测与评估方法、可靠性检测与评价方法、长期可靠性评价方法，电路系统包括控制系统、测试系统、负载系统、电源系统，所述控制系统输出控制信号到测试系统...该专利属于中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）所有，仅供学习研究参考，未经过中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂）授权不得商用。