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本实用新型提出了一种芯片老化测试转运机构，所述转运机构包括推车及用于承载芯片的老化夹具；还包括多个储存箱体，所述储存箱体具有开口向上的容纳腔，所述老化夹具设置在所述容纳腔中；所述推车内沿其高度方向上层叠设置与储存箱体数量对应的容置空间，所述...
该专利属于武汉锐晶激光芯片技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉锐晶激光芯片技术有限公司授权不得商用。

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