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本实用新型公开了一种TO半成品的高精度测试装置，包括测试治具、测试治具调节平台、光纤接收器、光纤接收器调节平台和底座；光纤接收器调节平台和测试治具调节平台均设置在底座上，测试治具设置在测试治具调节平台顶部，光纤接收器设置在光纤接收器调节平台...
该专利属于华天慧创科技(西安)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华天慧创科技(西安)有限公司授权不得商用。

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