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本发明涉及一种基于紫外脉冲与红外温度特征的污秽绝缘子故障联合概率预测方法，包括：S1、获取实验获得的污秽绝缘子的紫外脉冲波形和红外热像图，基于Hibert变换获取紫外脉冲包络线，基于图像处理方法获取红外热像图的温度分布；S2、利用样本统计方...
该专利属于同济大学华东电力试验研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学华东电力试验研究院有限公司授权不得商用。

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