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一种基于光谱法判断二维铁弹材料的畴取向以及局域光学各向异性的调控方法，涉及二维纳米材料表征与畴结构调控技术领域。本发明是要解决目前二维铁弹材料难以通过透射电子显微镜等微观的表征方法表征畴取向，传统的铁弹畴调制方法由于过于不均匀的应变也难以在...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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