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本申请公开了一种干涉量测量机构及测量方法，涉及干涉测量技术领域。该干涉量测量机构包括压电晶体，所述压电晶体与弹性件连接，且所述压电晶体与电容测试电路电连接，所述电容测试电路用于检测所述压电晶体所形成的电场强度，以便于根据所述电场强度、压电晶...
该专利属于成都极米科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都极米科技股份有限公司授权不得商用。

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