一种干涉量测量机构及测量方法技术

本申请公开了一种干涉量测量机构及测量方法，涉及干涉测量技术领域。该干涉量测量机构包括压电晶体，所述压电晶体与弹性件连接，且所述压电晶体与电容测试电路电连接，所述电容测试电路用于检测所述压电晶体所形成的电场强度，以便于根据所述电场强度、压电晶体参数和弹性件参数确定干涉量，从而根据干涉量确定密封是否合格，有利于保证产品装配质量。有利于保证产品装配质量。有利于保证产品装配质量。

【技术实现步骤摘要】
一种干涉量测量机构及测量方法


[0001]本申请涉及干涉测量
，具体而言，涉及一种干涉量测量机构及测量方法。

技术介绍

[0002]在摄像头或者投影仪光机镜头等电子产品装配密封时，通常需要通过密封泡棉或密封硅胶来保证所需连接处的密封性。在将两个结构件之间进行密封连接过程中，结构件之间的密封硅胶或密封泡棉的压缩量大小无法准确的测量，目前测量的方式大多是通过理论的计算获得，由于尺寸链较长，累计公差多，导致理论计算与实际情况往往存在差异。
[0003]由于存在上述差异，在装配过程中，所采用的密封硅胶或者密封泡棉的规格大小是一致的，由于最终连接处的实际距离存在差异，无法确定装配后的密封效果。如果密封硅胶或密封泡棉压缩量过小或者未接触，达不到设计的目的，压缩量过大，可能会带来其它不良影响，比如装配镜头时造成前镜片起翘等。因此准确的测量每个样品密封硅胶、密封泡棉或者其它密封材料压缩量大小显得格外重要。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种干涉量测量机构及测量方法，能够根据测得的电场强度准确测量干涉量，从而根据干涉量确定密封是否合格，有利于保证产品装配质量。
[0005]本申请的实施例是这样实现的：
[0006]本申请实施例的一方面，提供一种干涉量测量机构，包括压电晶体，所述压电晶体与弹性件连接，且所述压电晶体与电容测试电路电连接，所述电容测试电路用于检测所述压电晶体所形成的电场强度。
[0007]可选地，所述压电晶体包括相对的第一承压面和第二承压面，所述第一承压面与弹性件连接，且所述第一承压面上设置有第一电极，所述第二承压面上设置有第二电极，所述第一电极和所述第二电极分别与所述电容测试电路连接。
[0008]可选地，所述干涉量为X，则其中，E是电场强度，k是静电常数，ε是介电常数，S是所述压电晶体与所述弹性件相对侧面的面积，A是弹性件弹性常数，d
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是压电常数。
[0009]可选地，所述第一电极和所述第二电极采用银电极或金电极。
[0010]可选地，所述压电晶体与所述弹性件之间粘接固定；所述弹性件背离所述压电晶体的一侧设置有粘接部。
[0011]可选地，所述压电晶体在所述弹性件上的正投影位于所述弹性件的范围之内。
[0012]可选地，所述弹性件为聚氨酯泡棉；所述压电晶体为铌铟酸铅
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铌镁酸铅
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钛酸铅晶体基片。
[0013]本申请实施例的另一方面，提供一种干涉量测量方法，应用于如上所述任意一项所述的干涉量测量机构，所述方法包括：
[0014]将所述干涉量测量机构放置于第一构件表面；将第二构件靠近所述第一构件，以使干涉量测量机构挤压变形，直至第一构件和第二构件之间达到预设距离；根据压电晶体参数、弹性件参数和电容测试电路检测到的电场强度确定干涉量的大小。
[0015]可选地，所述压电晶体包括相对的第一承压面和第二承压面，所述第一承压面与弹性件连接，所述第一构件和所述第二构件之间还设置有密封件时，所述将第二构件靠近所述第一构件之前，所述方法还包括：
[0016]将所述干涉量测量机构放置于第一构件表面，以使弹性件和密封件位于同一平面，且密封件与所述第二承压面位于同一平面。
[0017]可选地，所述根据压电晶体参数、弹性件参数和电容测试电路检测到的电场强度确定干涉量的大小包括：
[0018]根据公式得出所述干涉量，其中，X是干涉量，E是电场强度，k是静电常数，ε是介电常数，S是所述压电晶体与所述弹性件相对侧面的面积，A是弹性件弹性常数，d
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是压电常数。
[0019]可选地，所述第一构件为结构光模组，所述第二构件为透明盖板，或，所述第一构件为镜头，第二构件为透明罩盖。
[0020]本申请实施例的有益效果包括：
[0021]本申请实施例提供的干涉量测量机构，通过将压电晶体与弹性件连接，压电晶体受力时，能够将所受到的力传递到弹性件处，从而在弹性件弹性变形的同时，使得压电晶体能够承受两个结构件之间的挤压力。这样一来，就可以根据与电压晶体电连接的电容测试电路得知压电晶体受力时所形成的电场强度，以便于根据电场强度、所采用的压电晶体的参数和弹性件的参数确定干涉量。采用上述形式，能够根据测得的电场强度准确测量干涉量，从而根据干涉量确定两构件之间设置密封件时密封是否合格，有利于保证产品装配质量。
[0022]本申请实施例提供的干涉量测量方法，应用于上述的干涉量测量机构，根据压电晶体受力产生的电场强度、压电晶体参数和弹性件参数确定干涉量，从而根据干涉量确定两构件之间设置密封件时密封是否合格，有利于保证产品装配质量。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0024]图1为本申请实施例提供的干涉量测量机构的结构示意图；
[0025]图2为本申请实施例提供的压电晶体应变大小与对应电场强度大小的关系示意图；
[0026]图3为本申请实施例提供的压电晶体分别与第一电极和第二电极连接的结构示意图；
[0027]图4为本申请实施例提供的压电晶体与弹性件连接的结构示意图；
[0028]图5为本申请实施例提供的干涉量测量机构使用时的设置位置示意图；
[0029]图6为本申请实施例提供的干涉量测量方法的流程示意图。
[0030]图标：100
‑
干涉量测量机构；110
‑
压电晶体；112
‑
第一电极；114
‑
第二电极；120
‑
弹性件；130
‑
电容测试电路；200
‑
第一构件；300
‑
第二构件。
具体实施方式
[0031]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0032]因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0033]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种干涉量测量机构(100)，其特征在于，包括压电晶体(110)，所述压电晶体(110)与弹性件(120)连接，且所述压电晶体(110)与电容测试电路(130)电连接，所述电容测试电路(130)用于检测所述压电晶体(110)所形成的电场强度。2.根据权利要求1所述的干涉量测量机构(100)，其特征在于，所述压电晶体(110)包括相对的第一承压面和第二承压面，所述第一承压面与弹性件(120)连接，且所述第一承压面上设置有第一电极(112)，所述第二承压面上设置有第二电极(114)，所述第一电极(112)和所述第二电极(114)分别与所述电容测试电路(130)连接。3.根据权利要求1所述的干涉量测量机构(100)，其特征在于，所述干涉量为X，则其中，E是电场强度，k是静电常数，ε是介电常数，S是所述压电晶体与所述弹性件相对侧面的面积，A是弹性件弹性常数，d
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是压电常数。4.根据权利要求2所述的干涉量测量机构(100)，其特征在于，所述第一电极(112)和所述第二电极(114)采用银电极或金电极。5.根据权利要求1所述的干涉量测量机构(100)，其特征在于，所述压电晶体(110)与所述弹性件(120)之间粘接固定；所述弹性件(120)背离所述压电晶体(110)的一侧设置有粘接部。6.根据权利要求1所述的干涉量测量机构(100)，其特征在于，所述压电晶体(110)在所述弹性件(120)上的正投影位于所述弹性件(120)的范围之内。7.根据权利要求1
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5任意一项所述的干涉量测量机构(100)，其特征在于，所述弹性件(120)为聚氨酯泡棉；所述压电晶体(110)为铌铟酸铅
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【专利技术属性】
技术研发人员：李之武，徐剑，
申请(专利权)人：成都极米科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：