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本申请涉及一种芯片老化测试设备和测试工艺，老化箱包括连通的测试腔室和转接腔室，转接腔室的高度比测试腔室的高度小，测试腔室和转接腔室之间设有可开闭的密封帘，转接腔室转动连接有柜门；测试组件包括底座和测试架，测试架活动安装于底座，测试架具有多个...
该专利属于上海安理创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海安理创科技有限公司授权不得商用。

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