专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
上海大学
>
一种用于半导体器件瞬态热测试的恒流源制造技术
>技术资料下载
下载一种用于半导体器件瞬态热测试的恒流源的技术资料
文档序号:37140234
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开一种用于半导体器件瞬态热测试的恒流源,涉及瞬态热测试技术领域,该恒流源包括:DCDC隔离电源以及LDO降压模块、高精度电压基准模块、极性转换模块、25.5MA档电流源模块、2A档电流源模块、大小电流切换模块、以及BNC接口输出模块...
该专利属于上海大学所有,仅供学习研究参考,未经过上海大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。