温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开提供了一种可动离子电荷的速率常数的测试方法、装置、存储器芯片和可读存储介质，测试方法包括：响应于施加于栅极的扰动信号，测量可动离子电荷扰动时的衬底电流，扰动信号用于驱动可动离子电荷脱离栅极侧的电子；基于衬底电流确定可动离子电荷运动产生...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。