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本发明实施例提供一种芯片功能验证系统、方法、存储介质及处理器，属于芯片测试技术领域。所述芯片功能验证系统包括：一个或多个分布式处理器，分别位于一个或多个测试位处，且分别被配置有被测芯片接口，用于测试经由该被测芯片接口接入的被测试芯片的功能；...
该专利属于北京芯可鉴科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京芯可鉴科技有限公司授权不得商用。

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