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集成电路片内老化检测电路和集成电路芯片，涉及集成电路技术。本发明包括顺次串联的信号采样处理模块、压控振荡器和施密特触发器模块；所述信号采样处理模块向压控振荡器输出与温度正相关的电压信号；所述施密特触发器对压控振荡器的输出波形整形；所述压控振...
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