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本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种校正VCSEL测试设备的方法，包括以下步骤，S1、制作校准样品，将相同产品芯片固晶到PCB板上；S2、待校准设备测试，将校准样品放到待校准的测试设备载台上，对校准样品进行LIV测试，并记录测量结果A；...
该专利属于威科赛乐微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过威科赛乐微电子股份有限公司授权不得商用。

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