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本发明提供一种便于芯片测试的版图结构，第一导电层(1)，设有若干第一导电线；第二导电层(2)，设有若干第二导电线，第二导电线与第一导电线在投影平面上具有不平行；每根第二导电线在投影平面上对应多个通孔(3)；从投影平面上看，与同一根的第二导电...
该专利属于裕太微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过裕太微电子股份有限公司授权不得商用。

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