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半导体器件制造技术
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文档序号:37109748
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本公开涉及一种半导体器件。当负载端子PNl中生成的输出电压Vo比接地电压GND低时,检测晶体管MNd使检测电流IdN流向电流路径CP1n。电流镜电路CMp1将在电流路径CP1n中流动的检测电流IdN传送到电流路径CP2a。检测电阻元件Rd1...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。
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