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本发明公开了一种基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法，利用3D相机动态扫描采集芯片表面外部图像，获取芯片高精度的点云数据，对点云数据进行处理和转化，生成芯片的深度图，然后在芯片的深度图中找出芯片上表面区域和各个Pin针的顶端区域...
该专利属于中国航发控制系统研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航发控制系统研究所授权不得商用。

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