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本申请公开了一种降低数字逻辑单元漏电功耗的方法及相关产品，可应用于集成电路技术领域。该方法包括：获取数字逻辑单元的漏电流；根据所述漏电流分析所述数字逻辑单元的漏电状态；根据所述漏电状态调整所述数字逻辑单元中MOS管的源极与衬底之间的电压，实...
该专利属于紫光同芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过紫光同芯微电子有限公司授权不得商用。

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