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本申请提供一种应用于X射线检测设备的集成电路的定位方法及装置。所述方法包括：将多行集成电路组首端对齐固定在检测区域，每行所述集成电路组中任意两个相邻集成电路之间的间距相同，所述集成电路组中任意两个所述集成电路的尺寸相同；对行所述集成电路组的...
该专利属于深圳电通纬创微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳电通纬创微电子股份有限公司授权不得商用。

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