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本申请涉及半导体测试板技术领域，尤其是涉及一种半导体测试用测试板及其制造工艺，半导体测试用测试板包括测试板主体和散热柱；测试板主体包括多层芯板和多层半固化片，每相邻两层芯板之间均设有半固化片；测试板主体设有贯穿各芯板和各半固化片的通孔，芯板...
该专利属于上海安理创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海安理创科技有限公司授权不得商用。

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