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本发明实施例提供一种检测芯片连通性的方法及装置，待检测芯片包括第一待检测模块和第二待检测模块，包括获取端口属性为输出端口的第一待检测模块和端口属性为输入端口的第二待检测模块；第一待检测模块与第二待检测模块具有连接关系；通过赋值指令使第一待检...
该专利属于上海芯联芯智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯联芯智能科技有限公司授权不得商用。

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