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半开式芯片老化测试插座制造技术
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下载半开式芯片老化测试插座的技术资料
文档序号:37020830
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本申请涉及一种半开式芯片老化测试插座,其包括:底座,底座上设有用于放置芯片的放置槽,放置槽内开有用于测试针穿插的通孔;铰接在底座一侧的压块,旋转压块用于压接芯片,压块远离铰接轴的一端设有卡扣凸沿;还包括铰接设置在底座另一侧的卡扣块,旋转压块...
该专利属于苏州京工机械科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州京工机械科技有限公司授权不得商用。
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