下载半开式芯片老化测试插座的技术资料

文档序号:37020830

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及一种半开式芯片老化测试插座,其包括:底座,底座上设有用于放置芯片的放置槽,放置槽内开有用于测试针穿插的通孔;铰接在底座一侧的压块,旋转压块用于压接芯片,压块远离铰接轴的一端设有卡扣凸沿;还包括铰接设置在底座另一侧的卡扣块,旋转压块...
该专利属于苏州京工机械科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州京工机械科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。