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本实用新型提供了一种测试工装，涉及测试技术领域。该测试工装包括上位机、N个微处理器和M个测试单元，所述N个微处理器与所述上位机通信连接，N大于或等于1；所述M个测试单元中每个测试单元包括至少一个继电器或至少一个光耦单元，所述M个测试单元中至...
该专利属于同方威视科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过同方威视科技（北京）有限公司授权不得商用。

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