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本实用新型提供了一种芯片测试装置，包括测试盒、转接电路板和芯片座，所述芯片座设置于所述转接电路板上，芯片座具有用于容纳芯片的芯片容纳腔，且所述芯片置于所述芯片容纳腔中并与所述转接电路板电性连接，所述测试盒设置于所述转接电路板上，且所述测试盒...
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