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本实用新型公开了一种半导体芯片模组AOI检测装置，包括安装进料先后顺序依次串联的视觉检测工站、复判检测工站，所述视觉检测工站内设有对半导体芯片模组进行输送的输送带，所述输送带延伸至复判检测工站内，所述视觉检测工站内设有与输送带平行设置的两个...
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