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本实用新型公开了一种高温芯片动态老化测试机箱，包括：风机安装槽，辅助板放置箱；芯片测试板放置箱；风机安装槽设置在芯片测试板放置箱顶部，风机安装槽以及芯片测试板放置箱的一侧设置电脑放置箱，电脑放置箱从上之下依次为，显示屏放置位、电脑键盘放置抽...
该专利属于苏州鑫达半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州鑫达半导体科技有限公司授权不得商用。

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