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本发明涉及一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，包括如下步骤：步骤S1：为实际芯片产品的不同应用模式生成基准配置的Kconfig默认配置；步骤S2：为不同测试用例生成基于基准配置的增量配置，所述增量配置包括测试环境增...
该专利属于苏州睿芯集成电路科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州睿芯集成电路科技有限公司授权不得商用。

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