一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，包括如下步骤：步骤S1：为实际芯片产品的不同应用模式生成基准配置的Kconfig默认配置；步骤S2：为不同测试用例生成基于基准配置的增量配置，所述增量配置包括测试环境增量配置和测试功能增量配置；步骤S3：在测试机台上实现用于回归测试的启动和停止功能，测试框架将测试程序提交给测试机台，完成测试；步骤S4：自动回归测试框架实现批量执行功能。本发明专利技术利用Kconfig提供的自动修改配置功能，构筑回归测试系统，来达到大规模芯片验证加速的同时，又能保证加速后的验证的有效性。有效性。有效性。

【技术实现步骤摘要】
一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法


[0001]本专利技术涉及一种回归测试方法，特别涉及一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法。

技术介绍

[0002]Kconfig是Linux内核使用的编译配置功能，允许定义bool/int/hex/string等类型生成C语言和汇编语言可以使用的宏定义。其中bool支持多选choice，int/hex支持范围range。
[0003]Kconfig系统在行业中工程实际应用上的地位如下：
[0004]1.芯片测试需要大量的仿真激励达到覆盖率，这些激励：
[0005]·
有的是对同一硬件的不同功能(下文称测试功能配置)：如果将所有测试功能链接成一个程序，则由于测试程序过于庞大，不适于用于芯片仿真；如果将每个测试功能分开实现为单独的程序，则它们共通的部分又有统一维护的需求。
[0006]·
有的是对同一硬件的不同配置(下文称测试环境配置)：如果运行同一测试功能的硬件配置不同，则经由不同配置编译生成的测试程序又无可避免的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：为实际芯片产品的不同应用模式生成基准配置的Kconfig默认配置；步骤S2：为不同测试用例生成基于基准配置的增量配置，所述增量配置包括测试环境增量配置和测试功能增量配置；步骤S3：在测试机台上实现用于回归测试的启动和停止功能，测试框架将测试程序提交给测试机台，完成测试；步骤S4：自动回归测试框架实现批量执行功能。2.根据权利要求1所述的基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，其特征在于，在步骤S1中，测试框架选择最接近于测试环境的产品默认配置做为基准。3.根据权利要求2所述的基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，其特征在于，在步骤S2中，测试框架根据测试环境配置和测试用例选择执行MODCFG脚本将所述增量配置叠加到基准配置上，这同时也将产品配置修改为仿真配置，形成测试程序的配置文件。4.根据权利要求3所述的基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，其特征在于，步骤S2包括如下步骤：步骤S2.1：先根据测试环境配置将测试环境增量配置应用到产品基准配置；步骤S2.2：最后将测试功能增量配置应用到修改后的产品基准配置上。5.根据权利要求1所述的基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法，其特征在于，步骤S3包括如下步骤：步骤S3.1：以测试程序配置编译后的测试软件用后门形式加载到硬件模型中，选择合适的硬件测试机台实现的启动模式启动仿真硬件；步骤S3.2：测试程序启动后执行测试命令，根据测试结果与否调用硬件测试机台实现的仿真技术功能结束硬件仿真。6.根据权利要求5所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑律，姜志颖，王飞，范东睿，
申请(专利权)人：苏州睿芯集成电路科技有限公司，
类型：发明
国别省市：