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本发明提供一种基于电磁场的芯片检测方法，涉及芯片检测技术领域。该基于电磁场的芯片检测方法包括：S1：外观检测，将芯片采用检测设备对芯片外观表面上有污染、腐蚀和爆板痕迹的位置进行检测，外观表面检测完毕之后，然后对芯片表面的电路布线规律性进行检...
该专利属于广西电网有限责任公司电力科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过广西电网有限责任公司电力科学研究院授权不得商用。

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