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本发明提供一种芯片的处理方法、芯片、电子设备及存储介质。所述方法包括：对芯片进行上电后，启动所述芯片的校验模块，使得所述芯片的校验模块验证所述芯片的片内固件的数据完整性，生成第一验证结果；当所述第一验证结果为数据完整时，则启动所述芯片的处理...
该专利属于成都海光集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都海光集成电路设计有限公司授权不得商用。

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