芯片的处理方法、芯片、电子设备及存储介质技术

本发明专利技术提供一种芯片的处理方法、芯片、电子设备及存储介质。所述方法包括：对芯片进行上电后，启动所述芯片的校验模块，使得所述芯片的校验模块验证所述芯片的片内固件的数据完整性，生成第一验证结果；当所述第一验证结果为数据完整时，则启动所述芯片的处理器，使得所述芯片的处理器运行片内固件，以进行安全启动。本发明专利技术能避免因片内密钥数据损坏而导致芯片启动时废片的风险。芯片启动时废片的风险。芯片启动时废片的风险。

【技术实现步骤摘要】
芯片的处理方法、芯片、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及处理器
，尤其涉及一片芯片的处理方法、芯片、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]早期处理器启动流程比较简单，处理器内部硬件初始化完毕之后，处理器直接从片外获取固件执行。随着处理器逻辑的复杂性增加，最新的处理器均采用SOC系统级芯片设计，芯片通常内置片内固件，并且针对片内固件设计了完整性校验电路，通过片内固件加载和执行片外固件。
[0003]现有技术中，芯片启动流程如下：
[0004]1、芯片上电进行ROMBIST(ROM内部自测试)的流程；
[0005]2、ROMBIST通过则对处理器的复位释放，处理器运行固件。
[0006]在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下技术问题：
[0007]上述背景方案中，硬件设计了完整性校验电路来保证BootROM(芯片内部ROM)数据的完整性，其中ROM Keys(只读存储器密钥)是BootCode的使用参数，如果ROM Keys或BootCode的数据变化，都会对硬本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的处理方法，其特征在于，包括：对芯片进行上电后，启动所述芯片的校验模块，使得所述芯片的校验模块验证所述芯片的片内固件的数据完整性，生成第一验证结果；当所述第一验证结果为数据完整时，则启动所述芯片的处理器，使得所述芯片的处理器运行片内固件，以进行安全启动。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述启动所述芯片的校验模块，使得所述芯片的校验模块验证所述芯片的片内固件的数据完整性，生成第一验证结果的步骤包括：启动所述芯片的校验模块，使得所述校验模块对存储在芯片的存储器中的片内固件进行哈希计算，生成片内固件哈希值；所述校验模块将所述片内固件哈希值与存储在芯片的存储器中的片内固件标志进行第一次数据一致性检查，生成第一验证结果；当数据一致时，则生成第一验证结果为数据完整；当数据不一致时，则生成第一验证结果为数据不完整。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述启动所述芯片的处理器的步骤之前，所述方法还包括：启动所述芯片的校验模块，使得所述芯片的校验模块验证所述芯片的密钥的数据完整性，生成第二验证结果；当所述第二验证结果为数据完整时，则执行下一步骤。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述启动所述芯片的校验模块，使得所述芯片的校验模块验证所述芯片的密钥的数据完整性，生成第二验证结果的步骤包括：启动所述芯片的校验模块，使得所述校验模块对存储在芯片的存储器中的密钥进行哈希计算，生成密钥哈希值；所述校验模块将所述密钥哈希值与存储在芯片的存储器中的密钥标志进行第二次数据一致性检查，生成第二验证结果；当数据一致时，则生成第二验证结果为数据完整；当数据不一致时，则生成第二验证结果为数据不完整。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述启动所述芯片的处理器的步骤之前，所述方法还包括：启动所述芯片的校验模块，使得所述校验模块对存储在芯片的存储器中的密钥进行数据完整性检查，生成第三验证结果；将所述第三验证结...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨雄，阮寅，
申请(专利权)人：成都海光集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：