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本发明提供一种基于能量法的材料辐射性能测量装置，包括真空罩和制冷机，真空罩内设有铜屏，铜屏内设有测量组件；制冷机，与真空罩相连接，且制冷机的制冷端与测量组件相连接；测量组件包括黑体、至少一个样品台、反射机构以及测量机构，反射机构适于转至黑体...
该专利属于中国科学院理化技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院理化技术研究所授权不得商用。

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