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本公开提供一种半导体存储器的检测方法及装置，所述方法包括：确定半导体存储器中的至少一个存储单元；向所述至少一个存储单元中写入第一位信息；在经过预设时间后，读取所述至少一个存储单元中的位信息，将其中第一位信息变为第二位信息的存储单元确定为不良...
该专利属于真芯（北京）半导体有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过真芯（北京）半导体有限责任公司授权不得商用。

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