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本发明公开了一种用于MCU芯片检验的自动测试系统，包括系统逻辑控制单元、可调电压输出单元、电压/电流采集单元、第一高精度低压差线性稳压器、第二高精度低压差线性稳压器、直流电源单元和人机接口单元。其中，人机接口单元与系统逻辑控制单元连接；系统...
该专利属于天津兆讯电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津兆讯电子技术有限公司授权不得商用。

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